抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀：

是一種測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試時(shí)間（在國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中速度快）等特點(diǎn)。體積小、重量輕是我廠的第二代抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

二、技術(shù)指標(biāo)

　　1、環(huán)境溫度：0 ～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）
　　2、相對(duì)濕度：30%～70%
　　3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz
　　4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高 500mm×300mm×400mm
　　5、重量：約18Kg
　　6、輸出功率：0.6KVA
　　7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
　　8、測(cè)量范圍及輸出電壓選擇：
　　介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
　　試品電容容量（Cx）和加載電壓：
　　2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
　　5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
　　10KV檔:≤20nF(20000pF)
　　9、基本測(cè)量誤差：
　　介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個(gè)字(加載電流20uA～500mA)
　　介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個(gè)字(加載電流5uA～20uA)
　　電容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

三、結(jié)構(gòu)

　　儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV—10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量時(shí)無(wú)需任何外部設(shè)備，接線與QS 電橋相似，但比其方便。

　　1、顯示窗——液晶顯示屏。 2、起動(dòng)燈——指示高壓輸出。
　　3、警示燈——操作時(shí)提示。
　　4、操作鍵盤——選擇快測(cè)、起動(dòng)、停止、打印等操作。
　　5、打印機(jī)——打印測(cè)試結(jié)果。
　　6、電壓選擇開(kāi)關(guān)——測(cè)量時(shí)選擇相應(yīng)試驗(yàn)電壓。
　　7、電源插座——保險(xiǎn)絲用5A。 8、電源開(kāi)關(guān)——電源通斷。 
　　9、接地端子——使用前，必須將該 端子可靠接地。
　　★10、測(cè)量電源輸入端 I x——有兩個(gè)出線頭，紅色測(cè)試鉗為中心頭（有Cx標(biāo)記）應(yīng)與被試品一端相接，黑色小鍔魚(yú)夾為屏蔽頭（有E標(biāo)記）是儀器內(nèi)部高壓輸出一個(gè)參考端，在正接法測(cè)量時(shí)應(yīng)接地，在反接法測(cè)量時(shí)應(yīng)浮空，外接法參見(jiàn)“外接高壓法”。
　　★11、標(biāo)準(zhǔn)電流輸入端 I N——僅當(dāng)外接標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行測(cè)量時(shí)才用，該 端應(yīng)與外接標(biāo)準(zhǔn)電容器一端相連。I N 必須小于100mA！
　　12、測(cè)量高壓輸出端UH——黃色測(cè)試鉗為出線頭（有UH 標(biāo)記），與被試品一端相連